صفحه محصول - پاورپوینت مطالعه نانوذرات توسط ميكروسكوپ الكتروني عبوري روبشي

پاورپوینت مطالعه نانوذرات توسط ميكروسكوپ الكتروني عبوري روبشي (pptx) 28 اسلاید

دسته بندی : پاورپوینت

نوع فایل : PowerPoint (.pptx) ( قابل ویرایش و آماده پرینت )

تعداد اسلاید: 28 اسلاید

قسمتی از متن PowerPoint (.pptx) :

بسم الله الرحمن الرحيم 1 مطالعه نانوذرات توسط ميكروسكوپ الكتروني عبوري روبشي STEM مقدمه دستگاه هاي STEM براي بدست آوردن اطلاعات ساختاري، شيميايي و مورفولوژيكي درباره نانوذرات در مقياس اتمي يا نانومتري ساخته مي شوند. ويژگي جالب ديگر STEM انعطاف پذيري بسيار زياد آن در سيستم آشكارسازي است. سيگنالهاي مختلفي كه از سطح مشخصي از نمونه توليد مي شوند مي توانند بطور جداگانه يا بطور همزمان جمع آوري شوند و براي بدست آوردن اطالاعات تكميلي از نمونه مورد استفاده قرار گيرند. هيچ چرخشي بين صفحات شييء و تصوير وجود ندارد و بزرگنمايي ميكروسكوپ مي تواند بدون كانوني كردن مجدد باريكه الكتروني براي حصول يك تصوير كانوني ، تغيير داده شود. قدرت تفكيك تصاوير STEM توسط اندازه باريكه برخوردي، پايداري ميكروسكوپ و ويژگي هاي ذاتي فرايندهاي توليد سيگنال تعيين مي شود. تصويربرداري چندگانه و آشكارسازهاي تحليلي براي جمع آوري همزمان چندين سيگنال كه بتوانند بطور مجزا يا به همراه هم نمايش داده شوند، ايجاد شده اند. قابليت مهم دستگاه هاي STEM، تشكيل باريكه هاي با روشنايي بالا است. براي ايجاد چنين باريكه الكتروني نانومتري، استفاده از تفنگ نشر ميداني (FEG) براي ايجاد سيگنالهاي قوي به منظور مشاهده و ثبت تصاوير، طيف ها و الگوهاي تفرق در STEM ضروري است. منبع FEG حداقل 103 برابر روشنايي بيشتر از فيلامانهاي تنگستن يا LaB6 كه بطور متداول در دستگاه هاي TEM استفاده مي شوند، دارند در حاليكه قطر منبع الكترون فقط حدود 4-5 nm است. سيگنالهاي توليد شده درداخل يك ميكروسكوپ STEM حالت هاي مختلف تصويربرداري با جمع آوري الكترونهاي تفرق يافته با زاويه زياد توسط يك آشكارساز حلقوي، تصاوير زمينه تيره حلقوي با زاويه زياد (HAADF) يا تصاوير كنتراست Z براي بدست آوردن اطلاعاتي از تغييرات ساختاري در مقياس اتمي، بدست مي آيند. طيف سنجي اتلاف انرژي الكترون (EELS) و طيف سنجي پراكنش انرژي اشعه X (XEDS) مي توانند داده هاي كمّي در مورد تغييرات ساختار الكتروني، تركيب عنصري يا حالت اكسيداسيون مربوط به ساختارهاي ناهمگن بدست دهند. تركيب تكنيك هاي XEDS و EELS با تكنيك تصويربرداري HAADF مي تواند اطلاعات جزئي در مورد تركيب، شيمي و ساختار الكتروني و كريستالي نانوذرات را با قدرت تفكيك و حساسيت اتمي حاصل كند. دستگاه هاي STEM بطور متداول دو نوع دستگاه STEM مورد استفاده قرار مي گيرد: STEM مجزا (DSTEM) و STEM متصل به TEM . يك ميكروسكوپ DSTEM، براي توليد باريكه هاي الكتروني با روشنايي بالا و اندازه زيرنانومتري، از تفنگ نشرميداني سرد استفاده مي كند. اندازه پروب هاي الكتروني مورد استفاده در TEM/STEM معمولا بسيار بزرگتر از DSTEM است. بعلاوه، عملكرد ملحقات STEM انعطاف پذيري DSTEM را ندارد.